セミナー情報
表面・界面の分析技術と表面状態の評価法 情報機構
情報機構はセミナー「表面・界面の分析技術と表面状態の評価法～各装置の基礎・原理・特徴とデータ処理・解釈の具体例～」を開催する。セミナーでは、生産現場や研究開発現場で一般的に使用されている表面・界面分析手法について、その原理や概要を基礎からやさしく解説し、表面・界面分析を依頼するときやこれから表面・界面分析をはじめようとするときに役に立つ知識を分りやすく解説する。日時は2009年5月26日10：30～16：30。場所は川崎市産業振興会館（神奈川県川崎市幸区堀川町66番地20）。参加費は43,050円（1社2名以上同時申込の場合、1名につき32,550円）。
申し込み・問い合わせTEL03-5740-8755
- 主な内容
表面・界面分析手法について解説する
- 講師
吉原一紘氏（アルバック・ファイ）
- 日時
- 2009年5月26日(火) 10：30～16：30
- 場所
- 川崎市産業振興会館（神奈川県川崎市幸区堀川町66番地20）
- 入場料
- 43,050円（昼食代含、1社2名以上同時申込の場合1名につき32,550円）
- 主催
情報機構
- ウェブサイト
- http://www.johokiko.co.jp/seminar_chemical/AC090536.php
- お問い合わせ
TEL03-5740-8755
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