セミナー情報
周辺視目視検査法による見逃し低減・検査精度向上と検査人員削減の実現 情報機構
情報機構はセミナー「周辺視目視検査法による見逃し低減・検査精度向上と検査人員削減の実現」を開催する。主な内容は①周辺視目視検査法の概念②導入方法③見逃し原因に多い検査対象物と光源の関係④事例紹介。日時は2010年5月18日10：30～16：30。場所はきゅりあん（東京都品川区東大井5-18-1）。参加費は45,150円（1社2名以上同時申込の場合、1名につき34,650円）。また、学生、教員は受講料50％割引。
申し込み・問い合わせTEL03-5740-8755
- 主な内容
目視検査法による見逃し低減・検査精度向上を解説する
- 講師
佐々木章雄氏（日立グローバル・ストレージ・テクノロジーズ）
- 日時
- 2010年5月18日(火) 10：30～16：30
- 場所
- きゅりあん（東京都品川区東大井5-18-1）
- 入場料
- 45,150円（昼食代含、1社2名以上同時申込の場合1名につき34,650円）
- 主催
情報機構
- ウェブサイト
- http://www.johokiko.co.jp/seminar_chemical/AC100503.php
- お問い合わせ
TEL03-5740-8755
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